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LPT-1S薄膜测厚仪

LPT-1S薄膜测厚仪 产品概述 本机执行GB/T6672-2001标准,采用机械测量法,适用于测定塑料薄膜或薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 产品特点  结构简单,使用方便  测量快速、直观  轻便,可随身携带  手台两用,性价比高 技术指标  测量范围 0~1mm   分 度 值 0.001mm;  综合误差 ≤0.005mm  上 测 头 曲率半径为R15~R50mm  下 测 头 直径6mm平面  测头负荷 0.1~0.5N  测量精度 100um以内<1um、100~250vm<2um、250um<3um  试验条件 标准试验环境  净 重 1.5 kg
发布日期: 2007年06月06日
有效期: 2008年10月04日