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LPT-1S薄膜测厚仪
LPT-1S薄膜测厚仪
产品概述
本机执行GB/T6672-2001标准,采用机械测量法,适用于测定塑料薄膜或薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。
产品特点
结构简单,使用方便
测量快速、直观
轻便,可随身携带
手台两用,性价比高
技术指标
测量范围 0~1mm
分 度 值 0.001mm;
综合误差 ≤0.005mm
上 测 头 曲率半径为R15~R50mm
下 测 头 直径6mm平面
测头负荷 0.1~0.5N
测量精度 100um以内<1um、100~250vm<2um、250um<3um
试验条件 标准试验环境
净 重 1.5 kg
发布日期: | 2007年06月06日 |
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有效期: | 2008年10月04日 |